ザイリンクス社のSDSoC 開発環境を使用し、OpenCv Harris Corner(特徴点検出)をHardware Accelerateしました。
無償のダウンロードにて、評価版デモプラットフォームをお試しいただけます。
Harris Cornerは微分幾何学に基づくアプローチを採っています。簡単に説明すると、「一次微分値(差分)が一方向に大きければエッジ、多方向に大きければコーナーである」という知識に基づいて計算されます。特徴“点”を求めるには通常は二次微分が必要ですが、Harris Cornerではガウシアン平滑化で以て二次微分計算を代用します。
Harrisオペレータによる特徴量は以下の式で求めます。
(特徴検出 - opencv.jpより画像引用)
ザイリンクスHLSライブラリには、Harris Cornerに沿ったHLS:Corner Harrisというライブラリが準備されており、このライブラリをSDSoCを使用してZYNQ SoCのPL(Programmable Logic)部に組み込みます。
今回の組込みデザインは、OKIアイディエス製のGigE-Vision IPと組合わせ、センサーからの入力映像の特徴点検出を行い、入力画像に特徴点描画を行った映像をGigE-Visionプロトコルにて、1Gbit Ethernetで伝送します。
SDSoC GigE-Vision Tx DEMO
デモは、SVDK Sensorからの入力映像をZYNQ PS部のARM CoretexA9にOpenCV Harris CornerライブラリをSoftwareとして組み込んだSoftware Corner DetectとHLS:Corner HarrisをSDSoCを使用し、HardwareとしてZYNQ PL部に組み込んだHardware Corner DetectのCorner Detectの2種が確認でき、softwareとHardwareでのCorner Detect処理の性能差分を確認できます。
プラットフォームには、XILINX製SVDK(Smart Vision Development Kit)を使用します。
SDSoC Corner Detect GigE-Vision Tx DEMOの評価版デモプラットフォームは専用ページから無償でダウンロードしてお試しいただけます。
リファレンスデザインを含んだ評価版SDSoC開発環境のご用命は下記にお問い合わせください。
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